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声发射检测的基本原理

声发射检测的基本原理就是由外部条件(如力、热、电、磁等)的作用而使物体产生并发射声信号,接收这些信号,加以处理,分析和研究,推断材料内部状态或缺陷性质和状态变化的信息。

声发射信号的波形及其基本参数:

Vt-门槛值;tr-上升时间;Vp-振幅;Vt-门槛电压;te+ti-事件持续时间

1.声发射计数在事件持续时间内,对一个事件记一次数的方法称为事件计数。事件计数可以计单位时间的事件数目,称为事件计数率。也可以计从实验开始到某一阶段的事件总数,称为事件总计数。

事件计数的大小反映了与材料内部损伤、断裂源的多少有关。

2.振幅或能量分布

声发射信号的振幅大小可以用来度量声发射信号的能量。

3.声发射源的定位分析

标签: 模拟电路 模拟芯片 德州仪器 模拟电子

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